在高动态负载瞬时条件下优化供电质量

如今的集成电路运行速度要比以往快很多，这对电源在高动态功率工作条件下工作的稳定性提出了更高的需求。工程师如果利用普通的程控电源为被测件供电并进行测试时，往往会遇到巨大的挑战。集成电路高速变化的电流耗电波形会导致输入电压出现瞬态压降。如果压降过高，将会导致微处理器测试结果异常，或出现重复启动的现象。本文将详细介绍压降产生的原因，以及如何有效减轻压降的方法。